ZEISSResearchMicroscopySolutions是*质量三维显像系统的特性*导者，今日发布了ZEISSXradiaCrystalCT™微电子计算机断层扫描(microCT)系统，可对多种多样金属材料和铝合金，增材制造，工业生产和学术研究试验室中的瓷器和药品试品。

　　璧山蔡司XradiaCrystalCT是全**一个商业服务完成，专用型于在传统式电子计算机断层扫描系统上出示透射对比断层扫描(DCT)，使科学研究工作人员能够 在三个层面上放晶体学信息内容填补消化吸收对比断层扫描数据信息。蔡司XradiaCrystalCT是出示根据DCT的*新Xradia服务平台，它是与根据试验室的透射显像的先行者XnovoTechnologyApS联合开发的。

　　蔡司XradiaCrystalCT是全**一个在microCT上商业化的修建的试验室透射对比断层扫描(DCT)。

　　无缝拼接的大容积晶体投射，与传统式的毁灭性三维晶体学方式 对比，提升了信息量的表明性，其*的收集方式有利于完成迅速，*的三维晶体数据信息的无针距扫描。*的扫描方式进一步清除了*生产效率试验室自然环境中各种各样一般试品的规格和收集速率的限定。运作更*样本数的工作能力清除了试验室中的限定，进而完成了大量的样版种类和更少的提前准备時间，进而减少了剖析時间。迅速的收集速率可减少试品运作時间，进而提升试验室生产效率。